【适应证】

1.了解眼球的解剖参数。

2.筛查闭角型青光眼患者。

3.评估青光眼类型，l如睫状环阻塞性青光眼等。

4.术后浅前房的疗效评价。

5.在一些疾病，l如眼外伤后，l间接了解睫状体病变。

【禁忌证】

在角膜大面积擦伤或结膜、i角膜感染等情况出现时，l不宜进行此项检查。

【操作方法及程序】

1.手电筒光测量法

(1)检查：i将聚光手电筒光水平从受检者颞侧，l沿虹膜平面向内眦方向照入，l观察虹膜被照亮的部分。

(2)结果判断：i鼻侧虹膜全被照亮时为深前房；鼻侧虹膜小环至其到虹膜周边部中点被照亮时为中深前房；仅鼻侧瞳孔缘虹膜被照亮时为浅前房。

2.Haag-Streit测定法

(1)用Haag-Streit厚度测定器Ⅰ和Ⅱ测量。测定器Ⅰ测量角膜厚度，l测定器Ⅱ测量晶状体前囊膜至角膜上皮层之间距离，l将后者的结果减去前者的结果为中央前房深度。

(2)测量前，l将裂隙灯显微镜右侧目镜换上裂隙分影目镜。

(3)将Haag-Streit厚度测量器装在Haag-Streit1900型裂隙灯上，l调整裂隙灯，l使其与显微镜呈40°～45°，l并使裂隙光束通过厚度测定器的裂隙光阑，l垂直聚焦于瞳孔中央的角膜表面，l沿受检眼视轴照入。

(4)受检者注视裂隙光带。检查者转动厚度测定器上方的刻度盘，l并调整裂隙灯显微镜的高度，l使分裂影像分成上下相等的两半，l且位于瞳孔领内。

(5)刻度盘恢复至“0”位。转动刻度表。使用测量器Ⅰ时，l使分裂影像的上方后表面(角膜内皮层)与下方前表面(角膜上皮层)相交。使用测量器Ⅱ时，l使分裂影像的上方后表面(晶状体前囊膜)与下方前表面(角膜上皮层)相交。

(6)读取刻度盘上读数。

(7)以上测量步骤重复2～3次，l取平均值。

3.超声波测量法

(1)受检者采用平卧位。

(2)眼部滴表面麻醉药。

(3)受检眼球表面加盛有生理盐水的水浴杯，l将超声探头浸于水内，l距眼球0.5～1.0cm，l并位于角膜顶点正上方，l指向眼轴方向。

(4)从示波器上选取波型，l测量角膜后表面至晶状体前表面的距离，l即为前房深度。

【注意事项】

1.手电筒光测量法是简易的初步评价前房深度方法。Haag-Streit测定法和超声波测量法的准确性均较高。

2.应用Haag-Streit测定法时，l也可单用测量器Ⅱ直接测量晶状体前囊膜至角膜内皮层之间的距离，l但结果不如应用测量器Ⅰ和Ⅱ测量时准确。

3.应用超声波法测量时，l超声探头不能触及角膜。