【适应证】

1.颅脑外伤(尤适用CT检查阴性者)。

2.脑血管疾病，l脑梗死，l脑出血。

3.颅内占位性病变，l良恶性肿瘤。

4.先天性发育异常。

5.颅内压增高、i脑积水、i脑萎缩等。

6.颅内感染。

7.脑白质病。

8.颅骨骨源性疾病。

【操作方法及程序】

1.平扫

(1)检查体位：i病人仰卧在检查床上，l取头先进，l头置于线圈内，l人体长轴与床面长轴一致，l双手置于身体两旁或胸前。头颅正中矢状面尽可能与线圈纵轴保持一致，l并垂直于床面。

(2)成像中心：i眉间线位于线圈横轴中心，l移动床面位置，l使十字定位灯的纵横交点对准线圈纵、i横轴中点，l即以线圈中心为采集中心，l锁定位置，l并送至磁场中心。

(3)扫描方法：i

①定位成像：i采用快速成像序列，l同时做冠、i矢、i轴三方向定位图。在定位片上确定扫描基线、i扫描方法和扫描范围。

②成像范围：i从听眶线至颅顶。

③推荐成像序列：iSE序列或快速序列，l常规行横断面T1WI、iT2wI，l矢状面和(或)冠状面T1WI。必要时可根据病情以及磁共振设备条件辅以其他的成像序列。

④成像野(F0V)：i20～25cm。可根据临床检查要求设定扫描范围及成像野。

⑤成像间距：i为相应层厚的10％～50％。

⑥成像层厚：i5～1Omm。

⑦矩阵：i128×256或256×512等。

2.增强扫描

(1)快速手推注射方法：i注射完对比剂后即开始增强扫描，l成像程序一般与增强前T1WI程序相同，l常规做横断面、i矢状面和(或)冠状面T1WI。

(2)磁共振高压注射器注射方法：i注射完对比剂后即开始增强后扫描，l成像程序一般与增强前T1WI程序相同，l常规做横断面、i矢状面和(或)冠状面T1WI。