【测试条件及设备】

20％光电峰对称窗，l使用仪器所提供的探头能量、i线性和均匀性校正技术。探头卸下准直器，l装上UFOV铅环，lSLIT铅栅模型(仪器提供固有分辨率测试软件)或四象限铅栅模型置于探头表面，l尽可能紧贴晶体。点源，l计数率不超过20kcps。测试要分别在探头的X和Y方向进行。

【测试步骤】

将点源置于探头中心正前方，l与探头表面的距离至少为该探头1UFOV最大直线长度的5倍。采集31000k计数四象限铅栅模型图像，l图像存储在256×256以上矩阵中。使用SLIT模型时，l采集计数和存储矩阵按测试软件要求设置。

【计算和分析】

使用被测试γ相机提供的固有空间分辨率测试软件。如果被测试仪器没有提供均匀性测试软件，l按下列步骤进行：i

(1)仔细观察四象限铅栅模型图像，l分别在UFOV和CFOV确定基本清晰可见的铅栅间隔BUFOV和BCFOV，l单位为mm。使用经验公式FWHM＝1.75B，l将1BUFOV和BCFOV转换为FWHM。

(2)按所使用的矩阵像素尺寸(mm／pixel)将FWHM单位换算为mm。

【结果报告】

X和Y方向上，lCFOV的固有空间率FWHM，lUFOV的固有空间分辨率FWHM，l单位mm。