【测试条件及设备】

20％光电峰对称窗，l使用仪器所提供的探头能量、i线性和均匀性校正技术。探头卸下准直器，l装上UFOV铅环，lSLIT铅栅模型置于探头表面，l尽可能紧贴晶体。99mTc点源，l计数率不超过20kcps。测试要分别在探头的X和Y方向进行。

【测试步骤】

将点源置于探头中心正前方，l与探头面的距离至少为该探头1UFOV最大直线长度的5倍。采集31000k计数SLIT栅模型图像，l图像存储在256×256以上矩阵中。

【计算和分析】

仔细观察探头视野范围内SLIT铅栅模型图像的线条有无明显弯曲及弯曲程度。

【结果报告】

探头视野范围内X和Y方向上SLIT铅栅模型图像的线性情况。